一、基于真空探針臺的紅外探測器自動(dòng)測試系統的研究：  

(1)半導體制冷臺 一英寸測試臺硬件測試電路的設計:該部分主要為芯片的測試提供驅動(dòng)電壓和時(shí)序激勵,同時(shí)完成像元響應電壓信號的采集與處理,同時(shí)在數據采集部分設計有單端轉差分網(wǎng)絡(luò ),消除共模噪聲的同時(shí)還可以增強模擬電壓信號的驅動(dòng)能力。  

(2)真空探針臺探針卡的設計:對于不同陣列的探測器芯片,本文中設計有與之相對應的測試探針卡,同時(shí)將偏置電壓的產(chǎn)生電路直接集成于測試探針卡上,偏置電壓可通過(guò)探針直接偏置到芯片上,避免模擬信號傳輸過(guò)程中受到的干擾。  

(3)測試系統自動(dòng)控制的實(shí)現:本設計基于VC++的開(kāi)發(fā)平臺,通過(guò)RS232協(xié)議控制真空探針臺和基于FPGA的測試電路模塊,并使用Matlab完成測試數據的處理和分析,終實(shí)現對320×240和384×288系列芯片的自動(dòng)選片測試。該自動(dòng)測試系統實(shí)現了對非制冷紅外探測器芯片晶圓和單片的自動(dòng)測試,通過(guò)響應率、噪聲等相關(guān)參數的測試結果完成對被測芯片整體性能的評估,并將測試結果以測試報告和wafermap的形式展示出來(lái)。此測試結果作為封裝之前芯片選片的重要依據,極大的縮小了紅外探測器的測試時(shí)間和封裝成本。  

二、發(fā)展背景：  

（1）公司以科技創(chuàng )新為主，服務(wù)社會(huì )為宗旨，積極設計開(kāi)發(fā)新型材料制備設備，奉獻于教育和科學(xué)，經(jīng)過(guò)長(cháng)期的研發(fā)和不斷地技術(shù)積累，擁有熱工，制造，控制相關(guān)，為化學(xué)，物理，材料，電子，高分子工程，新材料制備和研發(fā)領(lǐng)域的科學(xué)研究提供了精良設備。  

（2）公司通過(guò)和院校老師同學(xué)強強聯(lián)合，形成了有效的信息，技術(shù)交流平臺，為科探儀器了解市場(chǎng)需求提供了強有力的支持！  

（3）目前公司已研發(fā)生產(chǎn)產(chǎn)品十多個(gè)系列幾十款產(chǎn)品，產(chǎn)品囊括實(shí)驗電爐、半導體制冷臺 一英寸測試臺CVD供氣系統、等離子清洗機、小型離子濺射儀、小型蒸鍍儀等，主要適用于科研院校及工礦企業(yè)在新材料、新能源等領(lǐng)域物理特性及化學(xué)特性的研究，廣銷(xiāo)于各大院校，及材料研究所。  

三、應用領(lǐng)域：公司與國內高校，科研院所有多層次的合作關(guān)系，建有開(kāi)放實(shí)驗室，相關(guān)領(lǐng)域的教授、高級工程師、博士參與公司產(chǎn)品的研究和開(kāi)發(fā)。我們秉承公司的發(fā)展理念，依靠嚴謹的技術(shù)研發(fā)能力，科學(xué)合理的生產(chǎn)工藝，精益求精的制造要求，全心全意做好產(chǎn)品質(zhì)量和服務(wù)工作，科探儀器時(shí)刻懷著(zhù)一顆真誠的心期待與您的合作。