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高低溫真空探針臺KT-Z160T-RL，真空高低溫探針臺系統，使用國際上*溫度控制系統和傳感器，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度），溫度穩定性可達0.1K。

公司致力于各類(lèi)探針臺（包括手動(dòng)探針臺、真空探針臺）、顯微鏡成像、光電一體化的技術(shù)研發(fā)，擁有國內專(zhuān)業(yè)的技術(shù)研發(fā)團隊，在探針臺電學(xué)量測方面擁有近十年的經(jīng)驗團隊，力爭打造業(yè)內專(zhuān)業(yè)探針臺電學(xué)量測服務(wù)公司。簡(jiǎn)易型探針臺 科探為用戶(hù)提供了高性?xún)r(jià)比配置的真空高低溫探針臺，高真空探針臺冷熱型 鄭州科探該系統配置了溫度控制系統，為用戶(hù)提供精準、穩定、高效的溫度控制，節約用戶(hù)的設備預算。

微型高溫探針臺KT-Z400MR4T，0-400℃溫控，主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測量。

小型真空探針臺 太陽(yáng)能電池測試夾具，可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）

常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備，通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電性能測試，從而為研究和生產(chǎn)提供有價(jià)值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節，負責晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號，實(shí)現更加精確的數據測試測量。